2024-12-04 00:35:42
納米壓痕試驗舉例,試驗材料取單晶鋁,試驗在美國 MTS 公司生產的 Nano Indenter XP 型納米硬度儀以及美國 Digital Instruments 公司生產的原子力顯微鏡 (AFM) 上進行。首先將試樣放到納米硬度儀上進行壓痕試驗,根據設置的較大載荷或者壓痕深度的不同,試驗時間從數十分鐘到若干小時不等,中間過程不需人工干預。試驗結束后,納米壓痕儀自動計算出試樣的納米硬度值和相關重要性能指標。本試驗中對單晶鋁(110) 面進行檢測,設置壓痕深度為1.5 μ m,共測量三點,較終結果取三點的平均值。納米力學測試應用于半導體、生物醫學、能源等多個領域,具有普遍前景。四川原位納米力學測試哪家好
樣品制備,納米力學測試納米纖維的拉伸測試前需要復雜的樣品制備過程,因此FT-NMT03納米力學測試具備微納操作的功能,納米力學測試利用力傳感微鑷或者微力傳感器可以對單根納米纖維進行五個自由度的拾取-放置操作(閉環)??梢允褂镁劢闺x子束(FIB)沉積或電子束誘導沉積(EBID)對樣品進行固定。納米力學測試這種結合了電-機械測量和納米加工的技術為大多數納米力學測試應用提供了完美的解決方案。SEM/FIB集成,得益于FT-NMT03納米力學測試系統的緊湊尺寸(71×100×35mm),該系統可以與市面上絕大多數的全尺寸SEM/FIB結合使用,在樣品臺上安裝和拆卸該系統十分簡便,只需幾分鐘。此外,由于FT-NMT03納米力學測試的獨特設計(無基座、開放式),納米力學測試體系統可以和電子背向散射衍射儀(EBSD)和掃描透射電子顯微鏡(STEM)技術兼容。四川微納米力學測試參考價摩擦學測試在納米力學領域具有重要地位,為減少能源損耗提供解決方案。
微納米材料力學性能測試系統是一種用于機械工程領域的科學儀器,于2008年11月18日啟用。縱向載荷力和位移。載荷力分辨率:3nN(在施加1?N的條件下);較小載荷接觸力:<100nN;較大載荷:10mN;位移分辨率:0.0004nm;較小位移:<0.2nm;較大位移:5μm;熱漂移:<0.05nm/s(在室溫條件下)。 橫向載荷力和位移。載荷力的分辨率:0.5μN;較小橫向力:<5μN;較大橫向力:2mN;位移分辨率:3nm;較小位移:<5nm;較大位移:15μm;熱漂移:<0.05nm/s(在室溫條件下)。磨損面積范圍:4μm x 4μm 到 60μm x 60μm;磨損速率:≤180μm/s;縱向載荷范圍:100nN – 1mN。X-Y stage。
中國計量學院朱若谷、浙江大學陳本永等提出了一種通過測量雙法布里一boluo干涉儀透射光強基波幅值差或基波等幅值過零時間間隔的方法進行納米測量的理論基礎,給出了檢測掃描探針振幅變化的新方法。中國科學院北京電子顯微鏡實驗室成功研制了一臺使用光學偏轉法檢測的原子力顯微鏡,通過對云母、光柵、光盤等樣品的觀測證明該儀器達到原子分辨率,較大掃描范圍可達7μm×7μm。浙江大學卓永模等研制成功雙焦干涉球面微觀輪廓儀,解決了對球形表面微觀輪廓進行亞納米級的非接觸精密測量問題,該系統具有0.1nm的縱向分辨率及小于2μm的橫向分辨率。在進行納米力學測試時,需要選擇合適的測試方法和參數,以確保測試結果的準確性和可靠性。
模塊化設計使系統適用于各種形貌樣品的測試需求及各種SEM/FIB配置,緊湊的外形設計適用于各種全尺寸的SEM/FIB樣品室。用戶可設計自定義的測試程序和測試模式:①FT-SH傳感器連接頭,其配置的4個不同型號的連接頭,可滿足各種不同的測試條件(平面外或者平面內測試)和不同的測試距離。②FFT-SB樣品基座適配頭,其配置的4個不同型號的適配頭用來調節樣品臺的高度和角度。③FT-ETB電學測試樣品臺,包含2個不同的電學測試樣品臺,實現樣品和納米力學測試平臺的電導通。④FT-S微力傳感探針和FT-G微鑷子,實現微納力學測試和微納操作組裝(按需額外購買)。納米力學測試可以應用于納米材料的質量控制和品質檢測,確保產品符合規定的力學性能要求。四川原位納米力學測試哪家好
面向未來,納米力學測試將繼續拓展人類對微觀世界的認知邊界。四川原位納米力學測試哪家好
原位納米力學測試系統是一種用于材料科學領域的儀器,于2011年10月27日啟用。壓痕測試單元:(1)可實現70nN~30mN不同加載載荷,載荷分辨率為3nN;(2)位移分辨率:0.006nm,較小位移:0.2nm,較大位移:5um;(3)室溫熱漂移:0.05nm/s;(4)更換壓頭時間:60s。能夠實現薄膜或其他金屬或非金屬材料的壓痕、劃痕、摩擦磨損、微彎曲、高溫測試及微彎曲、NanoDMA、模量成像等功能。力學測試芯片大小只為幾平方毫米,亦可放置在電子顯微鏡真空腔中進行原位實時檢測。四川原位納米力學測試哪家好